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控制器是專門為四點(diǎn)探針測(cè)量而設(shè)計(jì)的一種專用電子儀器。它具有精度高、范圍廣和許多簡(jiǎn)化四點(diǎn)探測(cè)測(cè)量的特點(diǎn)。

氣氛可控開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。

薄膜電阻及厚度測(cè)試儀采用渦流檢測(cè)技術(shù)，可按照需求配置單個(gè)或多個(gè)針對(duì)不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測(cè)量，并通過(guò)顯示模塊輸出。檢測(cè)最終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)(Mhos/sq），厚度(單位：um）等。

表面光電壓譜系統(tǒng)為深入研究光敏感材料（例如有機(jī)半導(dǎo)體，太陽(yáng)能電池或者光敏染料）提供一種一體化解決方案。

超高真空開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

臺(tái)式拉曼光譜分析儀，集成了所需的關(guān)鍵元件，使所有技能水平的研究人員都能以易于操作和較好的靈敏度利用拉曼的力量。

多功能拉曼系統(tǒng)，內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)燈和自動(dòng)校準(zhǔn)算法可確保保留初始測(cè)量設(shè)置。 測(cè)量結(jié)果的高再現(xiàn)性由雙頭旋轉(zhuǎn)編碼器保證，誤差小于0.003度，易于更換的光柵，內(nèi)置硅樣品和引導(dǎo)光束。