多功能拉曼系統(tǒng)通過像差補償光譜設(shè)計最大限度地減少了精度失真。
內(nèi)置標準燈和自動校準算法可確保保留初始測量設(shè)置。 測量結(jié)果的高再現(xiàn)性由雙頭旋轉(zhuǎn)編碼器保證，誤差小于0.003度，易于更換的光柵，內(nèi)置硅樣品和引導(dǎo)光束。 激光的路徑被優(yōu)化為最短距離，這直接影響可持續(xù)性和可靠性。為了簡化管理、維護和提高機械穩(wěn)定性，采用了最小化設(shè)計。

廣泛的兼容性，靈活的

多功能拉曼系統(tǒng)測量選項

它采用模塊化系統(tǒng)設(shè)計，可與各種商用光學(xué)顯微鏡無縫集成，包括標準、融合和倒置類型，并提供三種配置，以滿足廣泛的應(yīng)用要求。

探測器

TE 冷卻 CCD

像素尺寸 26x26 μm

有效像素 1024 x 127

高靈敏度 TE 冷卻 CCD 探測器，可選擇 BVF 或 OE 型號

激光模組

支持選擇多達三種激光器：532 nm、633 nm、785 nm 等。 可根據(jù)要求提供其他波長（紫外至近紅外范圍：325–785 nm）

通過連續(xù) ND 濾光片控制對激光輸出進行微調(diào)

自動激光切換控制

顯微鏡

物鏡從 5× 到 100×，支持干浸、水浸和油浸類型

空間分辨率 ： 橫向分辨率 < 1 μm （XY），軸向分辨率 < 2.0 μm @ 100×，N.A 0.95

通過精密光學(xué)設(shè)計實現(xiàn)均勻照明，配備 3M CMOS 相機

電動顯微鏡 xyz 載物臺

行程范圍： 75 × 52 mm

最小步長：0.05 μm （XY）、0.002 μm （Z）

映射速度：50 × 50 像素 < 1 分鐘（基于 0.01 秒 CCD 曝光時間）

光譜

250 mm 焦距，像差校正光譜儀

兼容 14 種不同類型的同軸光柵，超越了標準系統(tǒng)的多功能性

光譜分辨率：每個 CCD 像素 1.5 cm?1 @ 1800 gr/nm，532 nm 激光器

光譜分辨率：每個 CCD 像素 2.3 cm?1 @ 1200 gr/nm，532 nm 激光器

自動化

DualTrack™ 自動校準系統(tǒng) ： 內(nèi)置標準燈和標準樣品，用于連續(xù)設(shè)備監(jiān)控和自動校準

全自動控制 ： 測量、數(shù)據(jù)采集和設(shè)備設(shè)置的自動化，以確保測量條件一致

自動偏振控制和測量：集成偏振控制和測量功能

按 CCD 型號推薦的應(yīng)用

BVF（背照式、邊跡抑制）

*優(yōu)勢 - 高量子效率 （QE），在弱光和近紅外 （NIR） 區(qū)域具有出色的靈敏度

*弱點 - 條紋圖案可能出現(xiàn)在 750 nm 以上的 NIR 區(qū)域，可能會在分析中引入噪聲

測量近紅外 （NIR） 區(qū)域中的微弱拉曼/PL 信號（例如，生物樣品、NIR 拉曼）

OE （開路電極）

*優(yōu)勢 - 基線穩(wěn)定，近紅外區(qū)域無條紋圖案

*缺點 - 與 BVF 相比，量子效率較低，在 UV 和 NIR 區(qū)域的靈敏度較低

適用于可見光范圍內(nèi)的強拉曼或 PL 信號（例如聚合物、無機材料），尤其是在基線穩(wěn)定性至關(guān)重要的情況下

按激光波長劃分的應(yīng)用

生物（細胞、組織）

*推薦激光波長 - 785 nm（低熒光）、633 nm（替代）

*波長選擇標準 - 最大限度地減少生物樣品中的熒光背景

SERS（表面增強拉曼）

*推薦激光波長 - 532 nm（強增強）、633 nm（較少加熱）

*波長選擇標準 - 532 nm 和 633 nm 通過與金屬納米結(jié)構(gòu)的共振來增強拉曼信號

材料科學(xué)（聚合物、半導(dǎo)體）

*推薦激光波長 - 532 nm、488 nm（高分辨率）

*波長選擇標準 - 高拉曼強度和低熒光可實現(xiàn)高效的信號采集

碳材料（石墨烯、碳納米管）

*推薦激光波長 - 532 nm、633 nm（拉曼效率與熒光權(quán)衡）

*波長選擇標準 - 強拉曼散射和中等熒光之間的平衡

PL 測量（量子點、半導(dǎo)體）

*推薦激光波長 - 325 nm（用于紫外激發(fā)）、488 nm（常見于可見光范圍 PL）

*波長選擇標準 - 此波長范圍可有效激發(fā)電子躍遷，較短的波長可提供更高的 PL 效率和更寬的測量帶寬。

直觀的用戶界面

易于使用的界面，即使對于初次使用的用戶來說，也會感覺自然而直接

測量程序 （Rays-On）

通過干凈、直觀的界面進行快速、準確的測量

專為易用性而設(shè)計，布局簡單、整潔。

快速訪問結(jié)果并與 Data Gallery 順利集成。

輕松管理和應(yīng)用個性化設(shè)置，以實現(xiàn)一致的測量條件。

分析程序 （WeVu）

在您的個人 PC 上進行靈活、獨立的分析

WeVu 與測量程序分開運行，讓您能夠隨時直接在自己的計算機上分析數(shù)據(jù)，無需設(shè)備。

通過 Data Gallery 輕松訪問和查看測量數(shù)據(jù)。

提供一系列分析工具，通過簡單、直觀的控件實現(xiàn)高效的工作流程。

頻譜匹配分析（可選）

基于庫的元器件識別

訪問包含 26,000 多個參考光譜的綜合庫，包括來自 Sigma-Aldrich 的數(shù)據(jù)，涵蓋聚合物、礦物、半導(dǎo)體和法醫(yī)材料。

使所有級別的用戶都可以輕松快速地識別組分并自信地分析混合物。