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非接觸式全自動(dòng)曲率及薄膜：全自動(dòng)二維或三維測(cè)量彎曲、弧度、坡度和表面曲率，軟件模塊用于計(jì)算硅片和玻璃基板的薄膜應(yīng)力（晶圓應(yīng)力）。

球磨測(cè)厚儀，控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時(shí)間，球型，X，Y直徑。顯微鏡：放大倍數(shù)100*，自帶LED光源，目鏡最小刻度為0.02mm。

涂層附著力檢測(cè)儀，工作過程：在使用洛氏硬度計(jì)完成常見的硬度測(cè)試后，用戶可以直觀評(píng)估樣品周邊裂縫。這個(gè)測(cè)試的樣品必須是在高速鋼或者硬度高于54HRC的基底上生長(zhǎng)的鍍層，鍍層的最大厚度為5um。

摩擦學(xué)測(cè)試儀，針-圓盤型和往復(fù)式（摩擦計(jì)）已經(jīng)在一個(gè)革新之路上被設(shè)計(jì)很久，在市場(chǎng)上已有20年經(jīng)驗(yàn)和35年的摩擦學(xué)測(cè)量，目的是滿足摩擦學(xué)的需要。

輪廓儀，因?yàn)椴粶?zhǔn)確的結(jié)果，錯(cuò)誤的涂層或基底材料會(huì)被選擇，并且最終應(yīng)用會(huì)高于預(yù)期的功能性的故障或與原始的計(jì)算相比較短的工作壽命。

界面力學(xué)分析儀，又名表面力儀（SFA），可以用來直接測(cè)量表面（諸如：無機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動(dòng)態(tài)力，并在分子級(jí)領(lǐng)域內(nèi)研究界面和薄膜現(xiàn)象。模塊化的設(shè)計(jì)允許更多擴(kuò)張功能和滿足客戶定制需求。

優(yōu)良的動(dòng)態(tài)TOF-SIMS團(tuán)簇離子束 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀，它使用直流主束和革命性的飛行時(shí)間分析儀，創(chuàng)建了成像質(zhì)譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續(xù)數(shù)據(jù)采集（即沒有單獨(dú)的蝕刻周期），同時(shí)提供高空間和質(zhì)量分辨率。

真空摩擦學(xué)系統(tǒng)用于研究超高真空或大氣環(huán)境條件下兩個(gè)表面之間的摩擦性質(zhì)。應(yīng)用負(fù)載從 1 到 10N。