

簡要描述:自動AI宏觀晶圓檢測,將檢查攝像頭整合到SPPE和SPPE-SORT設(shè)備中,以自動檢查晶片的任何方面。
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):代理商
更新時間:2025-12-04
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| 品牌 | 其他品牌 |
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自動AI宏觀晶圓檢測:
將檢查攝像頭整合到SPPE和SPPE-SORT設(shè)備中,以自動檢查晶片的任何方面。
Cognex InSight ViDi AI/深度學(xué)習(xí)檢測
通用的晶圓檢測
低成本、占地面積小的宏觀檢測解決方案——設(shè)計用于輕松插入晶圓廠工藝步驟,以允許使用技術(shù)進行在線晶圓檢測
按插槽編號顯示通過/失敗結(jié)果
設(shè)計用于檢測大于0.5mm的宏觀缺陷(劃痕、不需要的工藝標記、不想要的宏觀特征、CMP誤差)
自動AI宏觀晶圓檢測:
Model | Wafer Size | Description |
SPPE* SPPE*SORT | 150/ 200 mm | Wafer Inspection Cameras for SPPE* &SPPE*SORT series |
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